Настольные спектрофотометры X-Rite Ci7800/Ci7600 Benchtop Spectrophotometer
by
Настольные спектрофотометры X-Rite Ci7800/Ci7600 Benchtop Spectrophotometer
Конструкция этих настольных спектрофотометров позволяет точно измерять цвет образцов, разнообразной формы, размеров, текстуры и оптических свойств.
Тип испытания:
Спектрофотометры ЦветометрияПодходит для испытаний материала:
Лаки и краски Пластик Продукты питания ТканиОсновные индустрии использования:
Автомобильная промышленность Косметика Лакокрасочные покрытия Пластик Продукты питания ТекстильВнесен в Реестр СИ
Серия спектрофотометров на базе новейших технологий, обеспечивающих беспрецедентную легкость и функциональность в эксплуатации. Конструкция прибора позволяет точно измерять цвет образцов, разнообразной формы, размеров, текстуры и оптических свойств. Ci7600/Ci7800 является прибором с настраиваемым профилем чувствительности на различных длинах волн,что обеспечивает наивысшую точность измерений.
Использование спектрофотометров X-Rite Ci7600/Ci7800 повышает производительность и позволяет уменьшить количество ошибок и брака.
Применяя высокоточные настольные спектрофотометры X-Rite нового поколения Ci7800 и Ci7600, и используя их совместно с программным обеспечением NetProfiler и Color iMatch от X-Rite можно достичь:
- Точных данных о цвете в режимах SPIN/SPEX за одно измерение. Что позоляет за одно измерение определить влияние и уровень блеска образца и контролировать укрывистость краски.
- Быстрой программной настройки конфигурации прибора.
- Точной отчетности о состоянии прибора и значения параметров измерения образцов.
- Точных измерений сложных образцов, используя апертуры разных размеров .
- Точно измерять координаты цвета и уровень блеска лакокрасочной продукции.
Техническая спецификация
| Ci7600 | Ci7800 | |
| Спектральный диапозон | 360 — 750 нм | 360 — 780 нм |
| Воспроизводимость | 0.03 CIE Lab | 0.01 CIE Lab |
| Межприборная согласованность | 0.15 dE CIE Lab | 0.08 dE CIE Lab |
| Источник света | Ксеноновая импульсная лампа | |
| Геометрия измерения | D/8 | |
| Шаг измерения | 10 нм (по умолчанию) | 20 нм 10 нм (по умолчанию);5 нм; 20 нм |
| Апертуры На отражение | 25;17;10; 6; 3,5мм | 25;17;10; 6; 3,5мм |
| Апертуры На просвет | 25, 10, 6 мм | 25, 17, 10, 6 мм |
| Оптическа конфигурация | Три диффузных луча 8o,сфера 6 дюймов, матрица ПЗС/ Голографическая диф.решетка | |
| Фильтры | УФ 400 нм (стандартно), 420 нм, 460 нм | |